Browsing by Author 王行健

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
or enter first few letters:  
Showing results 21 to 40 of 128 < previous   next >
DateTitleAuthor(s)File
2008一種具有即時線上多重內嵌式記憶體維修機制之架構王行健; 張延任; 黃宗柱; 謝韶徽; 黃德成; 趙乾隆; Chao, Chien-Lung; 中興大學-
2008一種具有消除固定圖像雜訊能力之指紋辨識晶片設計王行健; 張延任; 黃宗柱; 謝韶徽; 黃德成; 趙俊傑; Chao, Chun-Chieh; 中興大學-
2008一種應用於離散小波轉換之低記憶體及低位元需求之架構探討王行健; 黃宗柱; 謝韶徽; 張延任; 黃德成; 陳冠男; Chen, Guan-Nan; 中興大學-
2009一種針對SRAM-based FPGAs內部多重配置干擾導致繞線錯誤之有效的測試方法及探討王行健; 黃宗柱; 張延任; 謝韶徽; 黃德成; 俞世邦; Yu, Shr-Bang; 中興大學-
2008一種針對網路路徑字串編碼壓縮及加速比對之技巧探討王行健; 王丕中; 謝韶徽; 黃宗柱; 黃德成; 蔡明禎; Tsai, Ming-Chen; 中興大學-
2012三維晶片中可適用於接合前及接合後測試方法之研究(I)王行健; 國立中興大學資訊科學與工程系(所); 行政院國家科學委員會-
2007以TCAM實作二階段多重特徵字串比對王行健; Sying-Jyan Wang; 王丕中; 蔡鴻旭; 謝韶徽; Pi-Chung Wang; Hung-Hsu Tsai; Shao-Hui Shieh; 黃德成; Der-Chen Huang; 羅鴻政; Lo, Hung-Cheng; 中興大學-
1999以二元決策圖為基礎的功能驗證王行健; Sying-Jyan Wang; 江政翰; JaneHangJung-
1999以內建式自我測試診斷現場可程式邏輯陣列中之連線錯誤王行健; Sying-Jyan Wang; 李國恩; Lee, Kuo-En-
2003以分析型模型為基礎在暫存器轉移層級建立功率消耗的巨集模型王行健; Sying-Jyan Wang; 劉章瑞-
2002以加減運算為基礎的同步錯誤偵測方法王行健; 黃建峰-
2007以填入非明確位元為基礎之低峰值功率Broad-side轉態錯誤測試產生王朝欽; 黃德成; 黃宗柱; 梁新聰; 王行健; 陳彥廷; Chen, Yan-Ting; 中興大學-
2008以多重目標最佳化的掃描鏈重新排序應用於歪斜載入轉態測試黃德成; Der-Chen Huang; 張延任; 王朝欽; 黃宗柱; Yen-Jen Chang; Chua-Chin Wang; Tsung-Chu Huang; 王行健; Sying-Jyan Wang; 蕭匡宭; Siao, Kuang-Cyun; 中興大學-
2007以延遲錯誤測試為目標之整合設計自動化環境王行健; 中興大學資訊科學研究所; 行政院國家科學委員會-
2003以更換連接線方式來減少電路的功率消耗王行健; 李廣為-
1994以較少的硬體合成低測試成本之循序電路王行健; 王啟信-
2007佈局考量之多階與多層的掃描樹合成黃德成; 黃宗柱; 梁新聰; 王朝欽; 王行健; Sying Jyan Wang; 李信龍; Li, Xin Long; 中興大學-
2007佈局考量之掃描鏈重新排序以提高歪斜載入轉態測試涵蓋率王朝欽; 黃宗柱; 梁新聰; 黃德成; 王行健; 彭國霖; Peng, Kuo-Lin; 中興大學-
2001低功率內建式自我測試設計王行健; Sying-Jyan Wang; 林燕宏; Lin, Yann-Horng-
2001低功率結構式預先計算設計王行健; Sying-Jyan Wang; 徐玉龍; Shyu, Paul-