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2017一個無需重新開機的暫存器物理不可複製函數設計王行健; Sying-Jyan Wang; 練智弘; Chin-Hung Lien; 資訊科學與工程學系
2003一整合性高階合成方法:排程與資源配置來達成低功率設計王行健; Sying-Jyan Wang; 周志霖; Chou, Chih-Lin-
2008一種使用格雷編碼用以更正多值邏輯快閃記憶體位移錯誤之方法王行健; Sying-Jyan Wang; 張延任; 黃宗柱; 謝韶徽; Yen-Jen Chang; Tsung-Chu Huang; Shao-Hui Shieh; 黃德成; Der-Chen Huang; 林宏明; Lin, Hung-Ming; 中興大學-
2007以TCAM實作二階段多重特徵字串比對王行健; Sying-Jyan Wang; 王丕中; 蔡鴻旭; 謝韶徽; Pi-Chung Wang; Hung-Hsu Tsai; Shao-Hui Shieh; 黃德成; Der-Chen Huang; 羅鴻政; Lo, Hung-Cheng; 中興大學-
1999以二元決策圖為基礎的功能驗證王行健; Sying-Jyan Wang; 江政翰; JaneHangJung-
1999以內建式自我測試診斷現場可程式邏輯陣列中之連線錯誤王行健; Sying-Jyan Wang; 李國恩; Lee, Kuo-En-
2003以分析型模型為基礎在暫存器轉移層級建立功率消耗的巨集模型王行健; Sying-Jyan Wang; 劉章瑞-
2008以多重目標最佳化的掃描鏈重新排序應用於歪斜載入轉態測試黃德成; Der-Chen Huang; 張延任; 王朝欽; 黃宗柱; Yen-Jen Chang; Chua-Chin Wang; Tsung-Chu Huang; 王行健; Sying-Jyan Wang; 蕭匡宭; Siao, Kuang-Cyun; 中興大學-
2001低功率內建式自我測試設計王行健; Sying-Jyan Wang; 林燕宏; Lin, Yann-Horng-
2001低功率結構式預先計算設計王行健; Sying-Jyan Wang; 徐玉龍; Shyu, Paul-
2012低成本三維晶片矽穿孔測試方法之研究王行健; Sying-Jyan Wang; 陳俞孝; Chen, Yu-Siao; 資訊科學與工程學系所-
2007使用分段以及條件放電減低內容可定址記憶體功耗王行健; Sying-Jyan Wang; 張孟洲; 許孟超; 林維亮; Meng-chou Chang; Mon-Chau Shie; Wei-Liang Lin; 張延任; Yen-Jen Chang; 廖元宏; Liao, Yuan-Hong; 中興大學-
2011使用輸入向量控制電路老化問題的分析李淑敏; Katherine Shu-Min Li; 王朝欽; 陳繼展; Chua-Chin Wang; Ji-Jan Chen; 王行健; Sying-Jyan Wang; 何融松; Ho, Jung-Sung; 中興大學-
1998修改使用者定義邏輯以測試內嵌式核王行健; Sying-Jyan Wang; 王弘儒; Wang, Hung-ju-
1999內嵌式記憶體的內建自我測試王行健; Sying-Jyan Wang; 魏震榮; Wei, Chen-Jung-
2000內建自我修復電路設計王行健; Sying-Jyan Wang; 莊舜如; Juang, Shuenn-Ru-
2018利用偽造的匯流排訊號洩漏資料王行健; Sying-Jyan Wang; 李應延; Ying-Yan Li; 資訊科學與工程學系
2011可同時應用於測試壓縮和掃描鏈診斷提升之技術李淑敏; Katherine Shu-Min Li; 王朝欽; 陳繼展; Chua-Chin Wang; Ji-Jan Chen; 王行健; Sying-Jyan Wang; 陳建良; Chen, Chien-Liang; 中興大學-
2011可提升三維晶片良率之測試介面整合設計李淑敏; Katherine Shu-Min Li; 王朝欽; 陳繼展; Chua-Chin Wang; Ji-Jan Chen; 王行健; Sying-Jyan Wang; 鄔明憲; Wu, Ming-Hsien; 中興大學-
2017可提升物理不可複製函數可靠度之技術王行健; Sying-Jyan Wang; 劉家穎; Chia-Yin Liu; 資訊科學與工程學系