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標題: Magnetism and Electron Paramagnetic Resonance of Cr1-xTixN(x=0.4~0.7) solid solution nitride
Cr1-xTixN(x=0.4~0.7)氮化物材料之磁性與電子順磁共振光譜分析
作者: 簡永育
Chien, Yung-Yu
關鍵字: 電子順磁共振
Electron Paramagnetic Resonance
出版社: 物理學系所
引用: [1]A.Filippetti, W.E.Pickett, and B.M.Klein, Phys.Rev.B 59,7043 (1999) [2]K.Suzuki, T.Suzuki, Y.Fujiwara, T.Kaneko, H.Yoshida, Y.Obi, and S.Tomiyoshi, J.Alloys Compd. 360,34 (2003) 加的上面記得要改>[3]L.M.Corliss, N.Elliott, J.M.Hastings, Phys.Rev. 117,4(1960) [3]K.Suzuki, Y.Yamaguchi, T.Kaneko, H.Yoshida, Y.Obi, H.Mortia, J.Phys.Soc.Jpn. 70,1084 (2001) [4] A.Filippetti, N.A.Hill, Phys. Rev.Lett. 85,5166(2000) [5]K.Suzuki, T.Kaneko, H.Morita, and H.Fujimori, J.Alloys Compd. 224,232 (1995) [6]G.F.Hardy and J.K.Hulm, Phys.Rev. 93,1004 (1954) [7]R.J. Kinsey, P.A. Anderson, Z.Liu, S.Ringer, S.M.Durbin, Currnet Appiled Physics 6 579-582 (2006) [8]磁性物理學, 電子工業出版社 [9]Introduction to Solid State Physics, CHARLES KITTEL, WILEY [10]Kei Inumaru, Kunihiko Koyama, Yuji Miyali, Kazuma Tanaka, and Shoji Yamanaka, Appl.Phys.Lett 91,152501 (2007) [11]Kei Inumaru, Yuji Miyali, Kazuma Tanaka, Kunihiko Koyama, and Shoji Yamanaka, Phys.Rev.B 78,052406 (2008) [12]T.P.Lu, C.C.Wu, M.D.Lan, Physica B 405, 2891-2895 (2010) [13]刘新典,姜恩永,李养贤,刘晖,李文成,米文博,李志青, ACTA METALLURGICA SINCA Vol.39 No.12, 1243-1246 (2003) [14]K.W.Joh, C.E.Lee, C.H.Lee, Y.H.jeong, Curr.Appl. Phys.2 411 (2002) [15]D.Laura Ccahuana, E.Winkler, F.Prado, A.Butera, C.A.Ramos, M.T.Causa, M.Tovar, Physica B 354 55-58 (2004)
摘要: 本篇論文主要在探討Cr1-xTixN (x=0.4~0.7)的磁性與電子順磁共振(EPR)分析。從MPMS的量測磁化率對溫度的關係中我們可以明顯看出,Ti掺雜以x=0.5時Tc最高。另外,再由EPR光譜分析得知溫度對於共振場、內場大小、geff值、共振場寬與共振吸收強度的影響,仍然以x=0.5的影響變化趨勢最為強烈。藉由這些訊息我們可以了解EPR功能除了讓我們觀察到樣品內凜磁場均勻程度與自旋電子感受周遭的影響程度。另一方面也可以從一階微分圖形來說明此樣品由順磁轉鐵磁時會有並存的現象產生[13,15]。 從實驗中我們可以發現摻雜Ti在低溫時會增加鐵磁雙交換的傳遞載子,產生較明顯的鐵磁現象。但由於摻雜的Ti離子是取代了Cr離子的位置,使形成鐵磁的Cr-N-Cr部分隨著Ti比例的增加造成Cr離子與N離子的距離逐漸被拉開,若過多摻雜反而形成鐵磁被削弱的情況。因此並不是隨Ti比例掺雜越多會讓鐵磁現象便明顯,而是剛好在Ti掺雜x=0.5時隨溫度降低反而有最明顯的順磁轉鐵磁的現象產生。
URI: http://hdl.handle.net/11455/17141
其他識別: U0005-0308201015181400
文章連結: http://www.airitilibrary.com/Publication/alDetailedMesh1?DocID=U0005-0308201015181400
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