Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11455/51298
標題: 超大型積體電路之整體測試資料產生
Integrated Test Generation for VLSI Circuit
作者: 王行健
關鍵字: 基礎研究
電子電機工程類, 資訊科學--軟體
URI: http://hdl.handle.net/11455/51298
其他識別: NSC83-0404-E005-010
文章連結: http://grbsearch.stpi.narl.org.tw/GRB/result.jsp?id=109957&plan_no=NSC83-0404-E005-010&plan_year=83&projkey=PS8301-2164&target=plan&highStr=*&check=0&pnchDesc=%E8%B6%85%E5%A4%A7%E5%9E%8B%E7%A9%8D%E9%AB%94%E9%9B%BB%E8%B7%AF%E4%B9%8B%E6%95%B4%E9%AB%94%E6%B8%AC%E8%A9%A6%E8%B3%87%E6%96%99%E7%94%A2%E7%94%9F
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