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標題: 影像次像素應用在米粒檢測之研究
作者: 鄭志祥
萬一怒
陳澤民
關鍵字: 邊緣檢測
次像素
品質檢測
精度量測
影像處理
出版社: 臺中巿: 國立中興大學農學院
URI: http://hdl.handle.net/11455/75885
顯示於類別:第52卷 第02期
農業暨自然資源學院

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