Browsing by Author 王朝欽

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-以一個位能模型作相信組合鄧洪聲; 王朝欽-
-以填入非明確位元為基礎之低峰值功率Broad-side轉態錯誤測試產生陳彥廷 ; Chen, Yan-Ting -
-以多重目標最佳化的掃描鏈重新排序應用於歪斜載入轉態測試蕭匡宭; Siao, Kuang-Cyun-
-佈局考量之多階與多層的掃描樹合成李信龍 ; Li, Xin Long -
-佈局考量之掃描鏈重新排序以提高歪斜載入轉態測試涵蓋率彭國霖 ; Peng, Kuo-Lin -
-使用輸入向量控制電路老化問題的分析何融松; Ho, Jung-Sung-
-可同時應用於測試壓縮和掃描鏈診斷提升之技術陳建良; Chen, Chien-Liang-
-可提升三維晶片良率之測試介面整合設計鄔明憲; Wu, Ming-Hsien-
-可改進測試資料壓縮的掃描鏈架構分析與設計陳世政; Chen, Shih-Cheng-
-在多重模式分割掃描架構下降低LOS轉態測試之測試資料量與測試時間翁宏銘; Weng, Hung-Ming-
-基於定值錯誤測試樣本的轉態錯誤自動測試樣本產生器林彥男 ; Lin, Yan-Nan -
-多重供應電壓轉換掃描正反器之設計謝明樺; Hsieh, Ming-Hua-
-於掃描測試中同時減少靜態與動態功率消耗黃順傑; Huang, Shun-Jie-
-線性測試資料壓縮中之低功率測試方法廖育德; Liao, Yu-De-
-繞線考量之不對稱機率掃描鏈架構分析與設計許槐烟; Shyu, Hwai-Yan-
-針對n次偵測測試的低峰值功率自動測試樣本產生和測試壓密傅國霖; Fu, Kuo-Lin-