Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11455/17076
標題: Y、YH2和YH3薄膜之光學性質研究
作者: 柯全益
關鍵字: Quantum size effect;量子效應;Interference;free - carrier density;干涉;自由載子濃度
出版社: 物理學系
摘要: 
藉由電阻和光譜同步的測量,可準確得到能量範圍在0.05 ~ 6.2 eV 之間Y、YH2及YH3薄膜的穿透光譜,也因此得到 Y、YH2及YH3的吸收係數、折射率、介電函數、光學導電率等物理量。由於Quantum size effect (QSE)的緣故,YH3的Energy gap會隨樣品厚度不同而改變 。還有,利用厚度大的樣品產生的干涉( Interference )穿透光譜,可直接得到能量介於1 ~ 3 eV YH3的折射率。另外,YH2→ YH3的穿透光譜,可以用Drude 模型的fitting,觀察出金屬―絕緣體(M-I)轉換時,介電函數會隨自由載子濃度( free - carrier density)發散,進而得到其臨界載子濃度。
URI: http://hdl.handle.net/11455/17076
Appears in Collections:物理學系所

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