Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11455/19017
標題: 現場可程式邏輯陣列之測試與診斷
Test and Diagnosis of Faulty Logic Blocks in FPGA
作者: 蔡志銘 
Tsai, Ti-Ming 
關鍵字: FPGA;現場可程式邏輯陣列;BIST;Diagnosis;PMC;CLB;內建自我測試;診斷;互測模組;錯誤區塊
出版社: 資訊科學研究所
摘要: 
現場可程式邏輯陣列,FPGA因為擁有下列性質:可重覆程式性。
URI: http://hdl.handle.net/11455/19017
Appears in Collections:資訊科學與工程學系所

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